H27年度夏学期　Ｘ線解析セミナー・シラバス（※開催済み）

H27年度夏学期　Ｘ線解析セミナー・シラバス（※開催済み）

東京大学・リガク産学連携室　平成27年度夏学期　Ｘ線解析セミナー・シラバス

東京大学・リガク産学連携室では、Ｘ線による材料評価や構造決定について、分析手法の理解と測定技術の習得・向上をめざしたＸ線解析セミナーを開催してまいりました。今回は、これからＸ線回折をはじめようとされている方を対象とし、粉末・薄膜Ｘ線回折および単結晶Ｘ線構造解析の入門コースを催行することといたしました。日々の研究教育活動や材料評価に、Ｘ線回折を導入される一助となれば幸いです。皆様のご参加をお待ちしています。

 

　会　　場：
(講義： 初日)　東京大学情報基盤センター
 1階 103遠隔講義室　(粉末・薄膜・単結晶)
(実習：2日目)　東京大学工学部９号館
 3階 ナノ工学研究センター　331室　(粉末・薄膜)
 3階 ナノ工学研究センター　333室他　(単結晶)
　日　　程： 2015 年 6 月2 日 ～ 6 月3 日（粉末）
2015 年 6 月9 日 ～ 6 月 10 日（薄膜）
2015 年 6 月 17 日 ～ 6 月 18 日（単結晶）
　主　　催： 東京大学・リガク産学連携室
東京大学微細構造解析プラットフォーム
　題　　目： Ｘ線解析セミナー （入門コース）
　定　　員： (講義)　各コース　５０名
(実習)　希望者のみ　(ただし講義の参加者。　粉末／単結晶：12名　薄膜：8名)
　プログラム： ○ 粉末Ｘ線回折コース　　　　　 『初心者編　粉末Ｘ線回折法の基礎と定性分析』
○ 薄膜Ｘ線回折コース　　　　　 『初心者編　薄膜Ｘ線回折法の基礎』
○ 単結晶Ｘ線構造解析コース　『初心者編　単結晶Ｘ線構造解析の原理と測定・構造解析』

 

○ 粉末Ｘ線回折コース　　

題目

初心者編　粉末Ｘ線回折法の基礎と定性分析

主担当者

紺谷 貴之　（株式会社リガク 応用技術センター）

 

コースの目的： 各種先端材料の物性や機械的性質を理解するためには、その材料の構造や物理情報を明らかにすることが必須となってきています。そのための解析手段の一つとしてＸ線回折法があります。本コースでは粉末X線回折法について、講義と実習を行います。粉末X線回折では、X線の性質と回折現象を理解し、特に定性分析、結晶化度解析、結晶子サイズ解析などを中心とした原理について講義します。

コース内容

回

日　程（時間）

題　　目

内　　　　容

講師

定員

1

6月 2日 (火)

講義
   10:00～11:30
   13:00～16:00

粉末Ｘ線回折法

－その１　原理と測定・解析法

講義： Ｘ線回折の原理およびその特徴を交えたＸ線回折の基礎、定性分析や測定条件の決定、平行ビーム光学系について解説する。

対象者： 粉末Ｘ線回折法を学びたい初心者。

佐藤 千晶

50名

2

6月 3日 (水)

実習
   10:00～11:30
   13:00～18:00

粉末Ｘ線回折法

－その２　測定と解析法の実際

実習： 装置構成と自動セッティング、測定条件の決定および定性分析とソフトの操作について実習や実演を行う。

対象者： 粉末Ｘ線回折法を学びたい初心者。ただし講義の参加者。

佐藤 千晶

12名

 

テキスト：  　　　　資料配布

参考書： 　　　　　 X線回折ハンドブック（リガク）

問い合わせ先：  seminar-info@soyak.t.u-tokyo.ac.jp

 

 

○ 薄膜Ｘ線回折コース　　

題目

初心者編　薄膜Ｘ線回折法の基礎

主担当者

紺谷 貴之　（株式会社リガク 応用技術センター）

 

コースの目的： 薄膜X線回折法では、薄膜評価の基礎、特に逆格子の考え方, Out of plane, In-plane, 極点,ロッキングカーブ, 逆格子マップ, 反射率について講義します。さらに、実習を通じて、解析・評価方法を習得します。

コース内容

回

日　程（時間）

題　　目

内　　　　容

講師

定員

1

6月 9日 (火)

講義
   10:00～11:30
   13:00～16:00

薄膜Ｘ線回折の基礎

－その１　Ｘ線による膜厚測定と薄膜評価の基礎知識

講義： 薄膜評価の基礎（逆格子の考え方, Out of plane,　In-plane, 極点, ロッキングカーブ, 逆格子マップ）、反射率について解説する。

対象者： Ｘ線回折による薄膜の評価法を学びたい初心者。

岩田 優子

50名

2

6月10日 (水)

実習
   10:00～11:30
   13:00～17:00

薄膜Ｘ線回折の基礎

－その２　測定と解析の実際

実習： 反射率, Out-of-plane測定, In-plane測定について実習や実演を行う。

対象者： Ｘ線回折による薄膜の評価法を学びたい初心者。ただし講義の参加者。

岩田 優子

8名

 

テキスト：  　　　　資料配布

参考書： 　　　　　 X線回折ハンドブック（リガク）

問い合わせ先：  seminar-info@soyak.t.u-tokyo.ac.jp

 

 

○ 単結晶Ｘ線構造解析コース　　

題目

初心者編　単結晶Ｘ線構造解析の原理と測定・構造解析

主担当者

山崎 幹緒　（株式会社リガク 応用技術センター）

 

コースの目的： 単結晶Ｘ線構造解析は原子や分子の三次元配列を明らかにする手法の一つであり、触媒や電子材料など低分子化合物からタンパク質結晶まで立体構造の解明に優れた解析手段です。本コースは初心者を対象として、Ｘ線回折の基礎を概説した後，測定装置の原理から構造解析を行う上で必要な知識について解説します。また、簡単な低分子化合物結晶を例に，測定から構造解析までを，実演・実習を交えながら解説します。このコースでは測定から構造解析までを自分で行えるようになる事を目指しています。

コース内容

回

日　程（時間）

題　　目

内　　　　容

講師

定員

1

6月17日 (水)

講義
   10:00～12:00
   13:00～14:45

実習
   15:00～17:00

単結晶Ｘ線構造解析

－その１　結晶学の基礎と結晶選択

講義： 結晶学の基礎。構造の精密化と解析結果の評価。測定の流れとデータ処理、構造解析の流れについての解説を行う。

対象者： 単結晶Ｘ線構造解析を学びたい初心者。

実習： 測定装置を使用しての実演・実習。標準サンプルの測定データを使用した構造解析の実習や実演を行う（各自ノートPCを持参）。

対象者： 希望者。ただし講義の参加者。

山崎 幹緒

50名

2

6月18日 (木)

実習
   10:00～12:00
   13:00～17:00

単結晶Ｘ線構造解析

－その２　測定と構造解析

実習： 測定装置を使用しての実演・実習。標準サンプルの測定データを使用した構造解析の実習や実演を行う（各自ノートPCを持参）。

対象者： 単結晶Ｘ線構造解析を学びたい初心者。ただし講義の参加者。

山崎 幹緒

12名

 

テキスト：  　　　　資料配布

参考書： 　　　　　 Ｘ線結晶構造解析入門（大場、植草著、化学同人）

問い合わせ先：  seminar-info@soyak.t.u-tokyo.ac.jp