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H30年度夏学期 X線解析セミナー・シラバス(※開催済み)

東京大学・リガク産学連携室 平成30年度夏学期 X線解析セミナー・シラバス


東京大学・リガク産学連携室では、X線による材料評価や構造決定について、分析手法の理解と測定技術の習得・向上をめざしたX線解析セミナーを開催してまいりました。今回は、これからX線回折をはじめようとされている方を対象とし、粉末X線回折の入門コースおよび薄膜X線回折の入門コースを催行することといたしました。日々の研究教育活動や材料評価に、X線回折を導入される一助となれば幸いです。皆様のご参加をお待ちしています。

 

 会  場:
(講義: 初日) 東京大学情報基盤センター
 遠隔講義室  (粉末・薄膜)  
(実習:2日目) 東京大学工学部9号館
 3階 ナノ工学研究センター 331室  (粉末・薄膜)
 日  程: 2018 年 6 月 19 日 ~ 20 日(粉末)
2018 年 6 月 26 日 ~ 27 日(薄膜)
 主  催: 東京大学・リガク産学連携室
東京大学微細構造解析プラットフォーム
 題  目: X線解析セミナー (入門コース)
 定  員: 粉末X線回折コース     講義:50名 実習:12名(希望者:ただし講義の参加者)
薄膜X線回折基礎コース 講義:50名 実習: 8名(希望者:ただし講義の参加者)
※ 実習の参加者は、原則として民間の参加者は1社につき1名様、官庁大学の参加者は1研究室につき、
   1名様までとさせて頂きます。
※ 会場の都合上、定員となり次第、申込みを締め切らせて頂きます。
 プログラム: ○ 粉末X線回折コース       『初心者編 粉末X線回折法の基礎とアプリケーション紹介』
○ 薄膜X線回折基礎コース   『初心者編 X線回折による薄膜評価の基礎』

 

○ 粉末X線回折コース  

題目  初心者編 粉末X線回折法の基礎とアプリケーション紹介
コースの目的: 各種先端材料の物性や機械的性質を理解するためには、その材料の構造や物理情報を明らかにすることが必須となってきています。そのための解析手段の一つとしてX線回折法があります。本コースでは粉末X線回折法について、講義と実習を行います。粉末X線回折では、X線の性質と回折現象を理解し、特に定性分析、結晶化度解析、結晶子サイズ解析などを中心とした原理について講義します。

コース内容

日 程(時間) 題  目 内    容 講師 定員

1

6月 19日 (火)

講義
   10:0011:30
   13:0016:00

粉末X線回折法

-その1 原理と測定・解析法

講義: X線回折法は材料の分析や開発には欠かせない手法の一つ。講義では粉末やバルク材料を分析するためのX線回折の原理、測定法、解析法について解説する。

対象者: 粉末X線回折法を学びたい初心者。

金 廷恩
宮山 明

50名

2

6月 20日 (水)

実習
   10:0011:30
   13:0018:00

粉末X線回折法

-その2 測定と解析法の実際

実習: 多目的装置のSmartLabを用いた高精度のデータを測定するための粉末X線回折測定法、PDXLを用いた定性分析法、結晶子サイズと粒径の理解とともに小角散乱法について実習を行う。

対象者: 粉末X線回折法を学びたい初心者。ただし講義の参加者。

金 廷恩
宮山 明

12名

 

テキスト:       資料配布
参考書:       X線回折ハンドブック(リガク)
問い合わせ先:  seminar-info@soyak.t.u-tokyo.ac.jp

 

 

○ 薄膜X線回折基礎コース  

題目  初心者編 X線回折による薄膜評価の基礎
コースの目的: X線回折を用いた薄膜材料の評価法について説明します。本コースでは、薄膜評価の基礎、特に逆格子の考え方, Out of plane, In-plane, 極点,ロッキングカーブ,逆格子マップ, 反射率について講義します。さらに、実習を通じて、解析・評価方法を習得します。

コース内容

日 程(時間) 題  目 内    容 講師 定員

1

6月 26日 (火)

講義
   10:0011:30
   13:0016:00

薄膜X線回折の基礎

-その1 X線による膜厚測定と薄膜評価の基礎知識

講義: X線回折を用いた多結晶薄膜やエピタキシャル薄膜の評価方法について解説する。

対象者: X線回折による薄膜評価の基礎を学びたい初心者。

小林信太郎

50名

2

6月 27日 (水)

実習
   10:0011:30
   13:0017:00

薄膜X線回折の基礎

-その2 測定と解析の実際

実習: 各評価手法( X線反射率、Out of plane / In-plane回折、極点、ロッキングカーブ、逆格子マップ)の測定と解析の実習を行う。

対象者: X線回折による薄膜評価の基礎を学びたい初心者。ただし講義の参加者。

小林信太郎

8名

 

テキスト:       資料配布
参考書:       X線回折ハンドブック(リガク)
問い合わせ先:  seminar-info@soyak.t.u-tokyo.ac.jp