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リガクWebinarシリーズ X線回折入門セミナー『 Rietveld定量の基礎とSmartLab Studio IIを用いた解析例 』

概要:Rietveld法を用いた定量分析は、多成分系試料に対してスタンダードレスで迅速な評価が可能なため、研究開発や品質管理の場で広く使用されています。本セミナーでは、Rietveld法の基礎の説明とSmartLab Studio IIを用いた様々な試料の解析例の紹介を行います。

Presenter
葛巻 貴大(株式会社リガク X線機器事業部 応用技術センター)
Date/time (JST)

講義:14:00~14:30
質疑応答:14:30~14:45