Skip to main content

材料科学

材料科学

元素分析/相分析から分子構造まで

先進材料の研究開発には、政府、民間合わせて毎年数十億ドルもの投資が行われています。 これには、宇宙科学や防衛技術から消費者向け製品に至るまでの用途で使用されている、金属、セラミック、プラスチックなどのさまざまな物質の特性と用途の研究などが含まれます。 X線回折(XRD)は先端材料研究のための主要な技術であり、次のような特性を調べるために使われています:相の同定と定量、相の結晶化度の決定、結晶学的構造、結晶方位と集合組織、残留応力分析、薄膜の厚さと特性、細孔サイズ、等。 粉末から、様々な形状や大きさの固体材料、溶液のほか半導体ウエハまで、多様な試料について測定を行うことができます。 リガクはX線の技術と専門知識で、材料科学のアプリケーション向けに独自のソリューションを多数提供いたします。

アプリケーション・ノート

関連するアプリケーションノートをご紹介します


小角散乱測定装置(SAXS)

X線回折装置(XRD)

発生ガス分析装置, 熱分析装置

水晶・単結晶方位測定

工業用X線イメージング装置, Computed tomography

リガクの関連装置


単結晶X線構造解析 低分子関連装置

1光子検出型HPC検出器搭載単結晶X線構造解析装置 XtaLAB Synergy-S

回折データを精度よく、迅速かつインテリジェントに収集。

デスクトップ単結晶X線構造解析装置 XtaLAB mini II

HPC X線検出器を搭載した世界最小のX線構造解析装置。

HPC検出器搭載単結晶X線構造解析装置 XtaLAB Synergy-i

アップグレード可能なエ ントリーモデル。

回転対陰極線源 超高速・超高精度 単結晶X線構造解析装置 XtaLAB Synergy-R/DW

単結晶X線構造解析のための至高のシステム。

単結晶構造解析 統合プラットフォーム CrysAlisPro

データの収集と解析、高度な機能を備えた統合ソフトウェア。

単結晶X線構造解析用HPCX線検出器 HyPix-Bantam

XtaLAB Synergy-i および XtaLAB mini II 用HPC 検出器

サブミクロン結晶用電子回折装置 XtaLAB Synergy-ED

データ測定から結晶構造の決定まで、シームレスなワークフローを提供。

X線回折装置(XRD)

デスクトップX線回折装置 MiniFlex

卓上タイプの高性能多目的粉末回折分析装置。

全自動多目的X線回折装置 SmartLab

装置が最適条件を教えてくれるガイダンス機能を実現。

全自動多目的X線回折装置 SmartLab SE

リガクの分析ノウハウを凝縮した「ガイダンス」機能を搭載。

試料水平型多目的X線回折装置 Ultima IV

あらゆる用途のための高性能、多目的XRDシステム。

残留応力・歪測定装置

微小部X線応力測定装置 AutoMATE II

大型試料対応で、非破壊品質評価や事故解析を強力サポート。

波長分散蛍光X線分析装置

走査型蛍光X線分析装置 ZSX Primus IV

(Be)から(Cm)までの主要元素および微量元素の迅速な定量。

走査型蛍光X線分析装置 ZSX Primus III+

上面照射方式で粉末試料も安心、生産管理分析に威力を発揮。

走査型蛍光X線分析装置 ZSX Primus 400

大径試料(φ400mm×50mm)をそのまま、多試料にも対応。

走査型蛍光X線分析装置 ZSX Primus IVi

下面照射タイプの走査型蛍光X線分析装置

エネルギー分散蛍光X線分析装置

エネルギー分散型蛍光X線分析装置 NEX DE

ppmオーダーから主成分の元素分析が行えます。

エネルギー分散型蛍光X線分析装置 NEX CG

環境分析や産業廃棄物、リサイクル原料等の広範囲に対応。

単結晶X線構造解析 生体高分子関連装置

超高速・超高精度単結晶X線構造解析装置 XtaLAB SynergyCustom

世界でひとつだけの、貴方だけのカスタムモデ ル。

工業用X線イメージング装置

工業用据置型 3DマイクロX線CT
CT Lab GX90/GX130

「最速8秒CT撮影」「最高分解能4.5 µm」「ワイドビューイメージング機能」

X線トポグラフ装置

ハイスループット&高分解能X線トポグラフイメージングシステム XRTmicron

転位などの結晶欠陥、表面への貫通転位やエピタキシャル層の欠陥などを検出

熱分析装置

示差熱-熱重量同時測定装置

重量変化と吸熱・発熱反応の測定ができる熱分析装置です。

 

熱機械分析装置 

荷重による物質の変形を温度の関数として測定する熱分析装置です。

 

示差走査熱量計
材料の融点などの反応温度や反応エネルギーを簡単に測定できる熱分析装置です。

横型膨張計

試料内に発生する熱膨張・収縮の変化量を再現性良く検出する熱分析装置です。

水蒸気雰囲気熱機械分析装置

水蒸気雰囲気で容易にTMA測定が可能な熱分析装置

 

水蒸気雰囲気示差熱天秤

水蒸気雰囲気で容易にTG-DTA測定が可能な熱分析装置。

 

示差熱天秤-フーリエ変換赤外分光分析複合システム

示差走査熱量計

微小なピークも見逃さない低ノイズも実現した熱分析装置です。

示差熱-熱重量同時測定装置

試料観察機能付き差動型示差熱天秤

 

試料観察示差走査熱量計
熱分析を実行しながら視覚的に試料変化を観察可能な熱分析装置です。

Thermo plus EVO2ソフトウェア
Thermo plus EVO2シリーズ装置の測定・解析ソフトウェア

高温DSC
1500℃までの高温測定

熱伝導率測定装置
粉末・ゲル・液体・固体試料の熱伝導率が簡単に測定できる熱分析装置です。

検出器

ハイブリッド型多次元ピクセル検出器 HyPix-3000

粉末の高速測定から薄膜の2次元測定まで対応。

発生ガス分析装置

 

示差熱天秤-光イオン化質量分析同時測定システム

発生ガスを高精度に質量分析。分子を壊さずにそのまま計測できる熱分析装置です。

昇温脱離ガス分析装置

半導体関連ならびに電子材料やセラミックスなどからの微量ガスの脱離挙動を、正確な温度で高感度分析

昇温脱離ガス光イオン化質量分析装置

多成分ガスが同時生成する場合でも、リアルタイムにガスを弁別分析

示差熱天秤-ガスクロマトグラフィ質量分析同時測定システム

熱分析だけでは判断が困難な化学反応情報を、同時に高感度測定できる熱分析装置です。

3次元表示・解析ソフトウェア

複合熱分析法によって得られるマトリックスデータを見やすく3次元表示

熱刺激電流測定システム

TS-POLARはフェムトアンペア(fA=10-15A)オーダーまで検出が可能な熱刺激電流測定装置(Thermally Stimulated Current:TSC)です。

エレクトロントラップ測定システム

不純物や結晶欠陥の違いに起因するトラップ準位の変化を、フェムトアンペアレベルの微少な脱トラップ電流の変化として測定できる熱分析装置です。

試料観察型示差熱天秤-ガスクロマトグラフィ質量分析同時測定システム

試料観察をしながらTG-GCMS測定

水晶・単結晶方位測定

X線水晶・単結晶方位測定装置 2991F2/2991G2

それぞれの目的に合った特性とするため、結晶軸に対する切断方向の結晶方位を測定

自動ウェーハ結晶面方位測定X線装置 FSAS II

ウェーハの主面の切断角度、OF・ノッチ位置を自動で測定する装置

自動X線単結晶方位測定装置 FSAS III

単結晶材料の切り出し方位を、ワイヤソーその他の切断機に正確に伝えます

インライン・オンライン製品

各種金属めっきやコーティング皮膜の付着量 ・厚みを計測することができます。

インライン対応測定ヘッド
大型ガラス基板上のコーティング皮膜やインライン生産中の測定対象を非破壊計測できるヘッドを提供します。