元素分析／相分析から分子構造まで
先進材料の研究開発には、政府、民間合わせて毎年数十億ドルもの投資が行われています。 これには、宇宙科学や防衛技術から消費者向け製品に至るまでの用途で使用されている、金属、セラミック、プラスチックなどのさまざまな物質の特性と用途の研究などが含まれます。 X線回折（XRD）は先端材料研究のための主要な技術であり、次のような特性を調べるために使われています：相の同定と定量、相の結晶化度の決定、結晶学的構造、結晶方位と集合組織、残留応力分析、薄膜の厚さと特性、細孔サイズ、等。 粉末から、様々な形状や大きさの固体材料、溶液のほか半導体ウエハまで、多様な試料について測定を行うことができます。 リガクはＸ線の技術と専門知識で、材料科学のアプリケーション向けに独自のソリューションを多数提供いたします。
アプリケーション・ノート
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残留応力・歪測定装置
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検出器
発生ガス分析装置
熱刺激電流測定システム
TS-POLARはフェムトアンペア（fA=10-15A）オーダーまで検出が可能な熱刺激電流測定装置（Thermally Stimulated Current：TSC）です。
