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粒子径分布・粒度分布

粒径分布

XRD/SAXSによる粒子径・空孔径決定

空孔率と表面積は、触媒、吸着剤、ナノ粒子、low-k誘電膜、医薬品など、多くの先端材料の特性と性能を大きく左右する材料の重要な物理化学特性です。粒子径・空孔径に関連した粒子特性評価のためにさまざまな技術が用いられますが、X線回折(XRD)およびその関連手法である小角X線散乱(SAXS)には、非破壊・非侵襲計測法であるという利点があります。SAXSは1 nm未満の粒子径・空孔径も決定することができます。

リガクの関連装置

全自動多目的X線回折装置 SmartLab

装置が最適条件を教えてくれるガイダンス機能を実現。

全自動多目的X線回折装置 SmartLab SE

リガクの分析ノウハウを凝縮した「ガイダンス」機能を搭載。

X線分析統合ソフトウェア SmartLab Studio II

測定から解析まで、X線分析のすべてをこなす統合ソフトウェア