鉱物相、元素および化学分析
惑星の進化や地球の構造の研究において、岩石や鉱物の組成と分子構造の分析が日常的に行われます。 地質学研究における中心的なツールとして長い間使われてきたX線分析技術は、微小部分析、マッピング、そしてスタンダードレスFP分析によってより強力なものになりました。 蛍光X線分析（XRF）は地質学的材料の元素組成の同定ための重要な技術であります。 最新世代の波長分散型XRF装置は、小さな分析領域とXYステージを使用して、元素マッピングを行うができます。鉱物相組成を定量的に測定するためにはＸ線回折（XRD）が用いられます。 Ｘ線回折データのリートベルト解析は現在、定量的結晶相解析における最も強力な方法と考えられています。 リガクはその技術と専門知識で、この分野に独自のソリューションを多数提供いたします。
リガクの関連装置
波長分散蛍光Ｘ線分析装置
単結晶X線構造解析 低分子関連装置
Ｘ線回折装置(XRD)
エネルギー分散蛍光Ｘ線分析装置
単結晶X線構造解析 生体高分子関連装置
検出器
携帯型成分分析計（Niton）
Niton 携帯型成分分析計 XL2/XL3t/XL5シリーズ（鉱物・土壌・各種素材用）
微量元素・軽元素対応機種がさらに高感度化、目的元素を短時間で定量測定