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地質・鉱物

地質と鉱物

相、元素および化学分析

惑星の進化や地球の構造の研究において、岩石や鉱物の組成と分子構造の分析が日常的に行われます。 地質学研究における中心的なツールとして長い間使われてきたX線分析技術は、微小部励起、マッピング、そして標準試料を用いない定量分析によってより強力なものになりました。 蛍光X線分析(XRF)は地質学的材料の元素組成の同定ための重要な技術であります。 最新世代の波長分散型XRF装置は、小さな分析領域とXYステージを使用して、サンプルを自動的に複数回測定して化学組成マップを作成することができます。 相組成を定量的に測定するためにはX線回折(XRD)が用いられます。 X線回折データのリートベルト解析は現在、定量的結晶相解析における最も強力な方法と考えられています。 リガクはその技術と専門知識で、この分野に独自のソリューションを多数提供いたします。

リガクの関連装置


波長分散蛍光X線分析装置

波長分散小型蛍光X線分析装置 Supermini200

高出力200Wで広範囲なアプリケーションに対応

走査型蛍光X線分析装置 ZSX Primus IV

(Be)から(U)までの主要元素および微量元素の迅速な定量。

走査型蛍光X線分析装置 ZSX Primus III+

上面照射方式で粉末試料も安心、生産管理分析に威力を発揮。

走査型蛍光X線分析装置 ZSX Primus IVi

下面照射タイプの走査型蛍光X線分析装置

単結晶X線構造解析 低分子関連装置

1光子検出型HPC検出器搭載単結晶X線構造解析装置 XtaLAB Synergy-S

回折データを精度よく、迅速かつインテリジェントに収集。

デスクトップ単結晶X線構造解析装置 XtaLAB mini II

HPC X線検出器を搭載した世界最小X線構造解析装置。

HPC検出器搭載単結晶X線構造解析装置 XtaLAB Synergy-i

アップグレード可能な単結晶X線回折装置

回転対陰極線源 超高速・超高精度 単結晶X線構造解析装置 XtaLAB Synergy-R/DW

単結晶X線回折分析のための強力で高速なシステム。

単結晶構造解析 統合プラットフォーム CrysAlisPro

データの収集と解析、高度な機能を備えた統合ソフトウェア。

単結晶X線構造解析用HPCX線検出器 HyPix-Bantam

XtaLAB Synergy-i および XtaLAB mini II 用HPC 検出器

X線回折装置(XRD)

デスクトップX線回折装置 MiniFlex

卓上タイプの高性能多目的粉末回折分析装置。

全自動多目的X線回折装置 SmartLab SE

リガクの分析ノウハウを凝縮した「ガイダンス」機能を搭載。

試料水平型多目的X線回折装置 Ultima IV

あらゆる用途のための高性能、多目的XRDシステム。

エネルギー分散蛍光X線分析装置

エネルギー分散型蛍光X線分析装置 NEX DE

ppmオーダーから主成分の元素分析が行えます。

エネルギー分散型蛍光X線分析装置 NEX CG

環境分析や産業廃棄物、リサイクル原料等の広範囲に対応。

単結晶X線構造解析 生体高分子関連装置

超高速・超高精度単結晶X線構造解析装置 XtaLAB Synergy Custom

使用者の目的達成を最優先に開発された、X線構造解析装置。

検出器

ハイブリッド型多次元ピクセル検出器 HyPix-3000

粉末の高速測定から薄膜の2次元測定まで対応。

携帯型成分分析計(Niton)

Niton 携帯型成分分析計 XL2/XL3t/XL5シリーズ(鉱物・土壌・各種素材用)

微量元素・軽元素対応機種がさらに高感度化、目的元素を短時間で定量測定