相、元素および化学分析
惑星の進化や地球の構造の研究において、岩石や鉱物の組成と分子構造の分析が日常的に行われます。 地質学研究における中心的なツールとして長い間使われてきたX線分析技術は、微小部励起、マッピング、そして標準試料を用いない定量分析によってより強力なものになりました。 蛍光X線分析（XRF）は地質学的材料の元素組成の同定ための重要な技術であります。 最新世代の波長分散型XRF装置は、小さな分析領域とXYステージを使用して、サンプルを自動的に複数回測定して化学組成マップを作成することができます。 相組成を定量的に測定するためにはＸ線回折（XRD）が用いられます。 Ｘ線回折データのリートベルト解析は現在、定量的結晶相解析における最も強力な方法と考えられています。 リガクはその技術と専門知識で、この分野に独自のソリューションを多数提供いたします。
リガクの関連装置
波長分散蛍光Ｘ線分析装置
単結晶X線構造解析 低分子関連装置
Ｘ線回折装置(XRD)
エネルギー分散蛍光Ｘ線分析装置
単結晶X線構造解析 生体高分子関連装置
検出器
携帯型成分分析計（Niton）
Niton 携帯型成分分析計 XL2/XL3t/XL5シリーズ（鉱物・土壌・各種素材用）
微量元素・軽元素対応機種がさらに高感度化、目的元素を短時間で定量測定