2017年4月3日
株式会社リガク
この度リガクは、数100 nmオーダーの粒子計測に特化し、使いやすさを追求したデスクトップ小角Ｘ線散乱測定装置「NANOPIX mini（ナノピックス・ミニ）」を4月3日より販売開始することを発表します。測定可能粒子サイズは5 nm～1,000 nm。
小角Ｘ線散乱（SAXS）法は、ナノ粒子の大きさや形状、粒子径分布に関する情報が得られる手法ですが、Ｘ線の高い物質透過能により、液中に分散された粒子から粉末・ペースト状、高分子などに分散・包埋されたフィラーの測定なども可能です。さらに、粒子やフィラーの凝集状態に関する構造情報を得ることが可能なため、ペースト状や濃厚コンポジット材料などの内部状態の評価への利用が期待されます。
NANOPIX miniは、ラインフォーカス管球を光源に、多層膜ミラー、分光結晶、アナライザー結晶と高精度ゴニオメーター、高性能半導体検出器といったリガクの要素技術を組み合わせたコンパクトな卓上型装置でありながら、実験室系では最高レベルの角度分解能と高い小角分解能（Ｑ min～0.005 nm-1）を実現。従来は大型の小角Ｘ線散乱専用機でしかできなかった極小角Ｘ線散乱計測を可能にしています。この性能により、極めて低角度に現れる数100 nmの構造情報が得られます。
このような小型・高性能機でありながら、NANOPIX miniは、自動測定モードを備え、分かりやすいタブレットライクなユーザーインターフェースにより、直感的に操作できます。また、難しい光学系の調整も不要で、現場測定にも好適です。
主な特長
- 導入しやすいコンパクトな卓上型
580（W） x 500（D） x 730（H）mm という省設置スペースに重量約90 kgで究極の性能を入手できます。 - 大型専用機と同等以上の小角分解能
多層膜ミラー、分光結晶、アナライザー結晶と高精度ゴニオメーター、高性能半導体検出器といったリガクの要素技術の組み合わせによりBonse-Hart光学系を構築し、従来は大型の小角散乱専用機でしかできなかった極めて低角度の小角散乱による粒子径分布計測が可能となりました。また、実験室系では最高レベルの角度分解能を実現し、極めて低角度に現れる数100 nmの構造情報が得られます。 - 自動測定モードを備えた、分かりやすいソフトウェア
粒子径分布計測に必要な機能に絞り込み、分かりやすいタブレットライクなユーザーインターフェースにより、直感的に操作できます。自動測定モードでは、光学調整や測定・解析が自動的に行われるので、誰でも、簡単に、粒子径分布計測と測定結果管理を行うことが可能です。 - 検査や製造現場での測定にも好適
ユーザーによるアッテネーター切り替えや光学系変更は不要です。検査や製造現場などでの使用も想定し、キャピラリー用ホルダーなど試料周りも使いやすく工夫されています。品質管理から研究開発まで幅広い用途で利用いただけます。
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時点で、予告なく変更されていることがありますので、あらかじめご了承ください。
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