蛍光Ｘ線分析による金属めっき試料の測定原理から各種装置（卓上型装置・汎用機（据え置き型））での実例を紹介いたします。
Presenter
上村 奨平（株式会社リガク Ｘ線機器事業部 SBU WDX 大阪分析センター）
Date/time (JST)
講義：15:00～15:30
質疑応答：15:30～15:45
開催言語：日本語
定員:500名（無料：事前登録制）
蛍光Ｘ線分析による金属めっき試料の測定原理から各種装置（卓上型装置・汎用機（据え置き型））での実例を紹介いたします。
講義：15:00～15:30
質疑応答：15:30～15:45
開催言語：日本語
定員:500名（無料：事前登録制）