材料の分析や開発には欠かせない手法の一つであるX線回折法の原理および測定・解析例を紹介します。また最新の測定事例として2次元検出器を使用したアプリケーションも併せて解説します。
Presenter
笠利 実希 (株式会社リガク X線機器事業部 応用技術センター)
市川 佑貴 (株式会社リガク X線機器事業部 応用技術センター)
Date/time (JST)
題 名:
初心者編 粉末X線回折法の基礎とアプリケーション紹介
開催日:
2023年 6月22日(木) 13:00 ~ 16:00
基礎編講義 13:05~14:30(14:20~14:30 質疑応答)
講師: 市川 佑貴(株式会社リガク X線機器事業部 応用技術センター)
X線回折法の原理と測定データに影響を及ぼす要因についての解説と様々な定性分析例の紹介。
応用編講義 14:40~16:00(15:50~16:00 質疑応答)
講師: 笠利 実希(株式会社リガク X線機器事業部 応用技術センター)
X線回折法で測定できることを具体的な解析事例(リートベルト解析・残留応力・小角X線散乱法等)を挙げながら解説。
定員:
500名(無料:事前登録制)