Skip to main content

薄膜評価セミナー 『 XRDによる化合物半導体評価の要点 ~その評価大丈夫?~ 』

化合物半導体の評価にX線回折装置をご活用いただいていますか?このセミナーでは、化合物半導体でよく評価される項目のご紹介と、間違えやすいポイントを紹介し、正しい評価をするために必要な測定方法について解説します。

Presenter
石川 和彦(株式会社リガク X線機器事業部 応用技術センター)
Date/time (JST)

講義:14:00~14:55
質疑応答:14:55~15:10
開催言語:日本語