AppNote B-XRF3002: 卓上型全反射蛍光X 線分析装置 NANOHUNTER II -高エネルギー励起による重元素の分析-
全反射蛍光X線分析法(TXRF)は、試料すれすれに入射したX線により表面近傍元素を効率良く励起でき、かつバックグラウンドの原因となる散乱X線がほとんど発生しない測定手法です。標準励起源であるMo(約17 keV)に加え、30 keV以上の高エネルギー励起源による重元素分析を行うことができます。
全反射蛍光X線分析法(TXRF)は、試料すれすれに入射したX線により表面近傍元素を効率良く励起でき、かつバックグラウンドの原因となる散乱X線がほとんど発生しない測定手法です。標準励起源であるMo(約17 keV)に加え、30 keV以上の高エネルギー励起源による重元素分析を行うことができます。