AppNote B-XRF3004: 卓上型全反射蛍光X 線分析装置 NANOHUNTER II -ガスフローによる妨害線の除去-
全反射蛍光X線分析法(TXRF)は、試料すれすれに入射したX線により表面近傍元素を効率良く励起でき、かつバックグラウンドの原因となる散乱X線がほとんど発生しない測定手法です(図1)。大型の装置と異なり、試料は大気雰囲気下で測定されるため、簡便に高感度測定を行うことができます。
全反射蛍光X線分析法(TXRF)は、試料すれすれに入射したX線により表面近傍元素を効率良く励起でき、かつバックグラウンドの原因となる散乱X線がほとんど発生しない測定手法です(図1)。大型の装置と異なり、試料は大気雰囲気下で測定されるため、簡便に高感度測定を行うことができます。