H28年度夏学期　Ｘ線解析セミナー・シラバス（※開催済み）

H28年度夏学期　Ｘ線解析セミナー・シラバス（※開催済み）

東京大学・リガク産学連携室　平成28年度夏学期　Ｘ線解析セミナー・シラバス

東京大学・リガク産学連携室では、Ｘ線による材料評価や構造決定について、分析手法の理解と測定技術の習得・向上をめざしたＸ線解析セミナーを開催してまいりました。今回は、これからＸ線回折をはじめようとされている方を対象とし、粉末・薄膜Ｘ線回折の入門コースおよび薄膜Ｘ線回折の応用コースを催行することといたしました。日々の研究教育活動や材料評価に、Ｘ線回折を導入される一助となれば幸いです。皆様のご参加をお待ちしています。

 

　会　　場：
(講義： 初日)　東京大学情報基盤センター
 遠隔講義室　　(粉末・薄膜・薄膜応用)
(実習：2日目)　東京大学工学部９号館
 3階 ナノ工学研究センター　331室　　(粉末・薄膜)
　日　　程： 2016 年 6 月7 日 ～ 6 月8 日（粉末）
2016 年 6 月 14 日 ～ 6 月 15 日（薄膜）
2016 年 6 月 21 日（薄膜応用）
　主　　催： 東京大学・リガク産学連携室
東京大学微細構造解析プラットフォーム
　題　　目： Ｘ線解析セミナー （入門コース）（応用コース)
　定　　員： 粉末Ｘ線回折コース　　　  講義：５０名　実習：１２名（希望者：ただし講義の参加者）
薄膜Ｘ線回折基礎コース　講義：５０名　実習：　８名（希望者：ただし講義の参加者）
薄膜Ｘ線回折応用コース　講義・実習：１２名
※　実習参加者は、原則として民間の参加者は１社につき１名様、官庁大学の参加者は１研究室につき、
　　 １名様までとさせて頂きます。
　プログラム： ○ 粉末Ｘ線回折コース　　　　　   『初心者編　粉末Ｘ線回折法の基礎と定性分析』
○ 薄膜Ｘ線回折基礎コース　　　 『初心者編　薄膜Ｘ線回折法の基礎』
○ 薄膜Ｘ線回折応用コース　　　 『中級者編　薄膜Ｘ線回折法の応用』

 

○ 粉末Ｘ線回折コース　　

題目 　初心者編　粉末Ｘ線回折法の基礎と定性分析
主担当者 　紺谷 貴之　（株式会社リガク 応用技術センター）
コースの目的： 各種先端材料の物性や機械的性質を理解するためには、その材料の構造や物理情報を明らかにすることが必須となってきています。そのための解析手段の一つとしてＸ線回折法があります。本コースでは粉末Ｘ線回折法について、講義と実習を行います。粉末Ｘ線回折では、Ｘ線の性質と回折現象を理解し、特に定性分析、結晶化度解析、結晶子サイズ解析などを中心とした原理について講義します。

コース内容

回 日　程（時間） 題　　目 内　　　　容 講師 定員

1

6月 7日 (火)

講義
   10:00～11:30
   13:00～16:00

粉末Ｘ線回折法

－その１　原理と測定・解析法

講義： Ｘ線回折の原理およびその特徴を交えたＸ線回折の基礎、定性分析や測定条件の決定、平行ビーム光学系について解説する。

対象者： 粉末Ｘ線回折法を学びたい初心者。

長尾 圭悟

50名

2

6月 8日 (水)

実習
   10:00～11:30
   13:00～18:00

粉末Ｘ線回折法

－その２　測定と解析法の実際

実習： 装置構成と自動セッティング、測定条件の決定および定性分析とソフトの操作について実習や実演を行う。

対象者： 粉末Ｘ線回折法を学びたい初心者。ただし講義の参加者。

長尾 圭悟

12名

 

テキスト：   　　　　資料配布
参考書： 　　　　　 X線回折ハンドブック（リガク）
問い合わせ先：  seminar-info@soyak.t.u-tokyo.ac.jp

 

 

○ 薄膜Ｘ線回折基礎コース　　

題目 　初心者編　薄膜Ｘ線回折法の基礎
主担当者 　紺谷 貴之　（株式会社リガク 応用技術センター）
コースの目的： 薄膜X線回折法では、薄膜評価の基礎、特に逆格子の考え方, Out of plane, In-plane, 極点,ロッキングカーブ, 逆格子マップ, 反射率について講義します。さらに、実習を通じて、解析・評価方法を習得します。

コース内容

回 日　程（時間） 題　　目 内　　　　容 講師 定員

1

6月14日 (火)

講義
   10:00～11:30
   13:00～16:00

薄膜Ｘ線回折の基礎

－その１　Ｘ線による膜厚測定と薄膜評価の基礎知識

講義： 薄膜評価の基礎（逆格子の考え方, Out of plane,　In-plane, 極点, ロッキングカーブ, 逆格子マップ）、反射率について解説する。

対象者： Ｘ線回折による薄膜の評価法を学びたい初心者。

西郷 真理

50名

2

6月15日 (水)

実習
   10:00～11:30
   13:00～17:00

薄膜Ｘ線回折の基礎

－その２　測定と解析の実際

実習： 反射率, Out-of-plane測定, In-plane測定について実習や実演を行う。

対象者： Ｘ線回折による薄膜の評価法を学びたい初心者。ただし講義の参加者。

西郷真理

8名

 

テキスト：   　　　　資料配布
参考書： 　　　　　 X線回折ハンドブック（リガク）
問い合わせ先：  seminar-info@soyak.t.u-tokyo.ac.jp

 

 

○ 薄膜Ｘ線回折応用コース　　

題目 　中級者編　薄膜Ｘ線回折法の応用
主担当者 　紺谷 貴之　（株式会社リガク 応用技術センター）
コースの目的： 本コースでは、Ｘ線回折による薄膜評価の基礎をある程度理解している方を対象に、特にエピタキシャル薄膜・単結晶薄膜の評価法について講義、実習を行います。主に，逆格子の考え方，ロッキングカーブ, 逆格子マップの測定・解析法について説明します。

コース内容

回 日　程（時間） 題　　目 内　　　　容 講師 定員

1

6月21日 (火)

講義・実習
   13:00～17:00

薄膜Ｘ線回折の応用

講義： エピタキシャル薄膜・単結晶薄膜の評価方法（逆格子の考え方, ロッキングカーブ, 逆格子マップ）について解説する。

対象者： Ｘ線回折による薄膜の評価法を学びたい中級者。薄膜Ｘ線回折コースを受講していることが好ましい。

西郷 真理

12名

 

テキスト：   　　　　資料配布
参考書： 　　　　　 X線回折ハンドブック（リガク）
問い合わせ先：  seminar-info@soyak.t.u-tokyo.ac.jp