AppNote B-XRD1044: 微小部2 次元X 線回折測定による 超硬チップの結晶相同定
切削工具に用いられる超硬チップは、耐久性向上のために様々なコーティングが施されています。これまでもX線回折によるコーティング層の評価が行われてきましたが、場所による組成や結晶性、配向の違いなどを迅速かつ同時に評価したいという要望もあります。今回使用した光学素子と検出器を用いると短時間で簡便にこれらの評価が可能となります。
切削工具に用いられる超硬チップは、耐久性向上のために様々なコーティングが施されています。これまでもX線回折によるコーティング層の評価が行われてきましたが、場所による組成や結晶性、配向の違いなどを迅速かつ同時に評価したいという要望もあります。今回使用した光学素子と検出器を用いると短時間で簡便にこれらの評価が可能となります。
