2次元回折像には結晶粒子の状態が反映され、回折像がライン状に連続していれば粒子が微細であり、スポット状に不連続であれば粒子が粗大であると考えることができます。さらに、回折像に強度分布がなければ結晶の選択配向がなく、周期的に不連続な強度分布があれば配向があると判断できます。従来の結晶相同定は2次元回折像から変換した1次元プロファイルのみで行われ、2次元回折像に含まれる粒子の情報は切り捨てられていました。Ｘ線分析統合ソフトウェア SmartLab Studio IIでは、1つの測定データを2次元回折像と1次元プロファイルに展開し、これら２つを比較しながら解析を進めます。結晶相同定結果と2次元回折像を視覚的に確認することができますので、試料に含まれる結晶の状態まで確認することができます。