AppNote B-XRD1132: Ｘ線回折装置によるガラスの定量分析

DD 法によるガラスの定量分析

粉末X線回折では、多重ピーク分離法やリートベルト法により非晶質の重量分率（濃度）を求めることができますが、多重ピーク分離法は誤差が大きく、リートベルト法では被検試料への標準試料の添加が必要です。当社が開発したDirect Derivation （DD）法では、単相と混合相の測定データから非晶質の量を直接算出することができます。ここでは、2種類の結晶粉末とガラスとを混合し、濃度を算出した例を示します。