プロセス制御

X線分析統合ソフトウェア SmartLab Studio II

測定から解析まで、X線分析のすべてをこなす統合ソフトウェア

大型ガラス基板上のコーティング皮膜やインライン生産中の測定対象を非破壊計測できるヘッドを提供します。

各種金属めっきやコーティング皮膜の付着量 ・厚みを計測することができます。

走査型蛍光Ｘ線分析装置 ZSX Primus IVi

下面照射方式の走査型蛍光X線分析装置

示差熱-熱重量同時測定装置

試料観察機能付き差動型示差熱天秤

走査型蛍光Ｘ線分析装置 ZSX Primus IV

（Be）から（Cm）までの主要元素および微量元素の迅速な定量。