エネルギー分散型蛍光X 線分析装置 NEX DE 　-セメント原料、製品の分析-

エネルギー分散型蛍光X 線分析装置 NEX DE 　-セメント原料、製品の分析-

AppNote B-XRF3016: エネルギー分散型蛍光X 線分析装置NEX DE 　-陶磁器着色部の小径分析-

 

蛍光X線分析法はセメントの主要成分及び微量成分の含有率を分析することで、セメント原料の受け入れ、中間品の組成比の管理、出荷検査などに広く利用されています。NEX DEは高計数率対応の検出器（SDD）により主要成分分析を短時間かつ安定して行うことができます。

B-XRF3016
アプリケーションノートのリクエスト 

リガクのエネルギー分散型蛍光Ｘ線(EDXRF)分析装置

NEX CG II

NEX CG II

次世代偏光光学系エネルギー分散型蛍光X線分析装置

更に進化した元素分析ツール

NEX QC low cost EDXRF analyzer

NEX QC, NEX QC+

エネルギー分散型蛍光Ｘ線分析装置 NEX QC

NaからUまで定量分析（検量線法）ができます。

NEX QC+ QuantEZ high performance Windows® based EDXRF spectrometer

NEX QC+ QuantEZ

エネルギー分散型蛍光Ｘ線分析装置 NEX QC+ QuantEZ

半定量分析等，高機能ソフトウェアを搭載したPCモデル.。
 

NEX DE high performance EDXRF spectrometer

NEX DE

エネルギー分散型蛍光Ｘ線分析装置 NEX DE

ppmオーダーから主成分の元素分析が行えます。

オンライン付着量計

オンライン付着量計

各種金属めっきやコーティング皮膜の付着量 ・厚みを計測することができます。

EDXhead

インライン対応測定ヘッド

大型ガラス基板上のコーティング皮膜やインライン生産中の測定対象を非破壊計測できるヘッドを提供します。