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エネルギー分散型蛍光X 線分析装置 NEX DE  -セメント原料、製品の分析-

AppNote B-XRF3016: エネルギー分散型蛍光X 線分析装置NEX DE  -陶磁器着色部の小径分析-

 

蛍光X線分析法はセメントの主要成分及び微量成分の含有率を分析することで、セメント原料の受け入れ、中間品の組成比の管理、出荷検査などに広く利用されています。NEX DEは高計数率対応の検出器(SDD)により主要成分分析を短時間かつ安定して行うことができます。

リガクのエネルギー分散型蛍光X線(EDXRF)分析装置

エネルギー分散型蛍光X線分析装置 NEX QC

NaからUまで定量分析(検量線法)ができます。

エネルギー分散型蛍光X線分析装置 NEX CG

環境分析や産業廃棄物、リサイクル原料等の広範囲に対応。

エネルギー分散型蛍光X線分析装置 NEX QC+ QuantEZ

半定量分析等,高機能ソフトウェアを搭載したPCモデル.。
 

エネルギー分散型蛍光X線分析装置 NEX DE

ppmオーダーから主成分の元素分析が行えます。

各種金属めっきやコーティング皮膜の付着量 ・厚みを計測することができます。

大型ガラス基板上のコーティング皮膜やインライン生産中の測定対象を非破壊計測できるヘッドを提供します。