Ｘ線回折の原理

Ｘ線回折装置は、試料にＸ線を照射した際、Ｘ線が原子の周りにある電子によって散乱、干渉した結果起こる回折を解析することを測定原理としています。
ブラッグ方程式、nλ = 2dsinθは、Ｘ線回折の原理を理解する上で、重要な基本の１つです。 この式において、nは整数、λは結晶サンプルに入射するＸ線の波長、dは原子列間の面間隔、θはこれらに対するＸ線ビームの角度です。この式が満たされるとき、周期構造の平面内の原子によって散乱されたＸ線は同相となり、回折は角度θの方向に起こります。最も簡単な例では、Ｘ線回折実験の結果は回折強度とそれらが観察される角度の組み合わせが並んだデータとなります。 この回折パターンは化学的指紋と考えることができ、化学的種の同定はこの回折パターンを既知のパターンのデータベースと比較することによって実行されます。
 

物質の三次元構造を決定

Ｘ線回折（XRD）は、液体から粉末や結晶まで、あらゆる種類の物質を分析するための最も重要なツールのひとつであり、研究から生産、エンジニアリングまで、XRDは材料の特性評価と品質管理に不可欠な方法です。
 

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