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マテリアルサイエンス

材料科学

元素分析/相分析から分子構造まで

先進材料の研究開発には、政府、民間合わせて毎年数十億ドルもの投資が行われています。 これには、宇宙科学や防衛技術から消費者向け製品に至るまでの用途で使用されている、金属、セラミック、プラスチックなどのさまざまな物質の特性と用途の研究などが含まれます。 X線回折(XRD)は先端材料研究のための主要な技術であり、次のような特性を調べるために使われています:相の同定と定量、相の結晶化度の決定、結晶学的構造、結晶方位と集合組織、残留応力分析、薄膜の厚さと特性、細孔サイズ、等。 これらの特性に対する非標準状態環境の影響もまたXRD技術を用いて日常的に研究されている。 粉末から、様々な形状および大きさの固体材料、溶液および半導体ウエハまで、多様な試料について測定を行うことができます。 リガクはその技術と専門知識で、材料科学のアプリケーション向けの独自のソリューションを多数提供いたします。

リガクの関連装置


単結晶X線構造解析 低分子関連装置

1光子検出型HPC検出器搭載単結晶X線構造解析装置 XtaLAB Synergy-S

回折データを精度よく、迅速かつインテリジェントに収集。

デスクトップ単結晶X線構造解析装置 XtaLAB mini II

HPC X線検出器を搭載した世界最小X線構造解析装置。

HPC検出器搭載単結晶X線構造解析装置 XtaLAB Synergy-i

アップグレード可能な単結晶X線回折装置

回転対陰極線源 超高速・超高精度 単結晶X線構造解析装置 XtaLAB Synergy-R/DW

単結晶X線回折分析のための強力で高速なシステム。

単結晶構造解析 統合プラットフォーム CrysAlisPro

データの収集と解析、高度な機能を備えた統合ソフトウェア。

単結晶X線構造解析用HPCX線検出器 HyPix-Bantam

XtaLAB Synergy-i および XtaLAB mini II 用HPC 検出器

X線回折装置(XRD)

デスクトップX線回折装置 MiniFlex

卓上タイプの高性能多目的粉末回折分析装置。

全自動多目的X線回折装置 SmartLab

装置が最適条件を教えてくれるガイダンス機能を実現。

全自動多目的X線回折装置 SmartLab SE

リガクの分析ノウハウを凝縮した「ガイダンス」機能を搭載。

試料水平型多目的X線回折装置 Ultima IV

あらゆる用途のための高性能、多目的XRDシステム。

残留応力・歪測定装置

微小部X線応力測定装置 AutoMATE II

大型試料対応で、非破壊品質評価や事故解析を強力サポート。

波長分散蛍光X線分析装置

走査型蛍光X線分析装置 ZSX Primus IV

(Be)から(U)までの主要元素および微量元素の迅速な定量。

走査型蛍光X線分析装置 ZSX Primus III+

上面照射方式で粉末試料も安心、生産管理分析に威力を発揮。

走査型蛍光X線分析装置 ZSX Primus 400

大径試料(φ400mm×50mm)をそのまま、多試料にも対応。

走査型蛍光X線分析装置 ZSX Primus IVi

下面照射タイプの走査型蛍光X線分析装置

エネルギー分散蛍光X線分析装置

エネルギー分散型蛍光X線分析装置 NEX DE

ppmオーダーから主成分の元素分析が行えます。

エネルギー分散型蛍光X線分析装置 NEX CG

環境分析や産業廃棄物、リサイクル原料等の広範囲に対応。

単結晶X線構造解析 生体高分子関連装置

超高速・超高精度単結晶X線構造解析装置 XtaLAB Synergy Custom

使用者の目的達成を最優先に開発された、X線構造解析装置。

X線CT・X線顕微鏡

工業用据置型 3DマイクロX線CT CT Lab GX90/GX130

「最速8秒CT撮影」「最高分解能4.5 µm」「ワイドビューイメージング機能」

X線トポグラフ装置

ハイスループット&高分解能X線トポグラフイメージングシステム XRTmicron

転位などの結晶欠陥、表面への貫通転位やエピタキシャル層の欠陥などを検出

熱分析装置

Thermo plus EVO2 示差熱天秤 TG-DTA

TG(熱重量分析)とDTA(示差熱分析)の同時測定装置。

 

Thermo plus EVO2 熱機械分析装置 TMA8311

荷重による物質の変形を温度の関数として測定。

 

示差走査熱量計 Thermo plus EVO2 DSCvesta

加熱または冷却時に発生する熱エネルギーの変化を検出。

Thermo plus EVO2 横型膨張計 TDL8411

荷重をかけ、加熱中に試料の膨張量や収縮量を測定。

水蒸気雰囲気熱機械分析装置 TMA/HUM-1

水蒸気雰囲気でTMA(熱機械分析)測定を行う装置。

水蒸気雰囲気示差熱天秤 TG-DTA/HUM-1

水蒸気雰囲気で容易にTG-DTA測定が可能。

 

示差走査熱量計 Thermo plus EVO2 DSC8231

新しい電気炉構造と電気炉回路技術の調和により、ベースライン安定性の向上と低ノイズを実現

高圧DSC(高圧示差走査熱量計)

加圧下で、示差走査熱量測定(DSC:Differential Scanning Calorimetry)

TG-DTA Smart loader用安全カバー

試料自動交換機、炉体部を覆い測定中の安全性を確保

分離型TG-DTA

小型化のため天秤部本体を制御回路部と分離。グローブボックス内の設置が容易になりました。

大容量HUM

長時間の水蒸気測定や大容量の水蒸気が必要な場合に使用します。

カルベ式熱量計 C80/C600

等温測定時の高感度測定と熱分析装置DSCのように昇温測定の特質を併せ持ったシステムです。

超高感度DSC Micro DSC VII/Micro SC

バッチ式容器や混合容器などが使用可能で、-45℃までの凍結融解プロセスが測定可能です。

高圧DSC SENSYS DSC,TG-DSC

試料が検出器に接触していなくても熱量検出が可能。電子天秤で試料を吊り下げ、TGとDSCを同時に測定。

超高温TG-DTA SETSYS Evolution18,24

試料ホルダーや検出熱電対モジュールの交換で、1600,1750,2100,2400℃仕様に切り換えることができます。

超高温DTA/DSC LABSYS DTA/DSC1600

超高温電気炉にタングステン炉を使用し電気炉内部に、アルゴンガスが密封され発熱体の保護用不活性ガスをフローする必要がなく、メンテナンスフリー設計。

Thermo plus EVO2 示差熱天秤 試料観察TG-DTA

熱分析を実行しながら視覚的に試料変化を観察できる示差熱天秤です。

 

Thermo plus EVO2 試料自動交換機付TG-DTA TG-DTA Smart loader

24試料までセットが可能なオートサンプルチェンジャー付きTG-DTAです。

 

Thermo plus EVO2 水蒸気雰囲気示差熱天秤 TG-DTA/HUM-1

示差熱天秤と水蒸気発生装置を組み合わせて水蒸気雰囲気でTG-DTA測定を行う装置です。

 

試料自動交換機付DSC DSCvesta Smart loader

オートサンプルチェンジャー付きのDSCvesta。加熱または冷却時に発生する熱エネルギーの変化を検出。

示差走査熱量計 Thermo plus EVO2 試料観察DSC

熱分析を実行しながら視覚的に試料変化を観察できる示差走査熱量計

試料自動交換機付 示差走査熱量計 DSC8231 Smart loader

オートサンプルチェンジャー付きDSC8231。24試料までセットが可能。

検出器

ハイブリッド型多次元ピクセル検出器 HyPix-3000

粉末の高速測定から薄膜の2次元測定まで対応。

小角散乱測定装置(SAXS)

小角X線散乱(SAXS)Kratky カメラシステム NanoMAX

最新の2D - Kratky システム

発生ガス分析装置

示差熱天秤-光イオン化質量分析同時測定システム ThermoMass Photo

発生ガスを高精度に質量分析。分子を壊さずにそのまま計測。

昇温脱離ガス分析装置 TPD type V

半導体関連ならびに電子材料やセラミックスなどからの微量ガスの脱離挙動を、正確な温度で高感度分析

昇温脱離ガス光イオン化質量分析装置 TPD type R

多成分ガスが同時生成する場合でも、リアルタイムにガスを弁別分析

示差熱天秤-ガスクロマトグラフィ質量分析同時測定装置 TG-DTA/GC-MS

熱分析だけでは判断が困難な化学反応情報を、同時に高感度測定

3次元表示・解析ソフトウェア

複合熱分析法によって得られるマトリックスデータを見やすく3次元表示

熱伝導率測定装置 TCi

熱伝導率(0-500W/mK)を画期的な手法で間単にそして迅速に測定

熱刺激電流測定システム TS-POLAR

TS-POLARはフェムトアンペア(fA=10-15A)オーダーまで検出が可能な熱刺激電流測定装置(Thermally Stimulated Current:TSC)

エレクトロントラップ測定システム TS-FETT

不純物や結晶欠陥の違いに起因するトラップ準位の変化を、フェムトアンペアレベルの微少な脱トラップ電流の変化として測定

水晶・単結晶方位測定

X線水晶・単結晶方位測定装置 2991F2/2991G2

それぞれの目的に合った特性とするため、結晶軸に対する切断方向の結晶方位を測定

自動ウェーハ結晶面方位測定X線装置 FSAS II

ウェーハの主面の切断角度、OF・ノッチ位置を自動で測定する装置

自動X線単結晶方位測定装置 FSAS III

単結晶材料の切り出し方位を、ワイヤソーその他の切断機に正確に伝えます

アプリケーション・ノート

関連するアプリケーションノートをご紹介します


XRD

X線回折装置(XRD)

WDXRF

EDXRF

X-ray Imaging

XRD, SAXS

Protein

X-ray CT, Computed tomography

Small Molecule

X線回折装置(XRD), 小角散乱測定装置(SAXS)

Total reflection XRF (TXRF)

X線CT・X線顕微鏡, Computed tomography