
元素分析/相分析から分子構造まで
先進材料の研究開発には、政府、民間合わせて毎年数十億ドルもの投資が行われています。 これには、宇宙科学や防衛技術から消費者向け製品に至るまでの用途で使用されている、金属、セラミック、プラスチックなどのさまざまな物質の特性と用途の研究などが含まれます。 X線回折(XRD)は先端材料研究のための主要な技術であり、次のような特性を調べるために使われています:相の同定と定量、相の結晶化度の決定、結晶学的構造、結晶方位と集合組織、残留応力分析、薄膜の厚さと特性、細孔サイズ、等。 これらの特性に対する非標準状態環境の影響もまたXRD技術を用いて日常的に研究されている。 粉末から、様々な形状および大きさの固体材料、溶液および半導体ウエハまで、多様な試料について測定を行うことができます。 リガクはその技術と専門知識で、材料科学のアプリケーション向けの独自のソリューションを多数提供いたします。
アプリケーション・ノート
関連するアプリケーションノートをご紹介します
X線回折装置(XRD)
水晶・単結晶方位測定
小角散乱測定装置(SAXS)
工業用X線イメージング装置, Computed tomography
X線回折装置(XRD), 小角散乱測定装置(SAXS)
Protein
X-ray Imaging
WDXRF
Small Molecule
Total reflection XRF (TXRF)
EDXRF
リガクの関連装置
単結晶X線構造解析 低分子関連装置
X線回折装置(XRD)
残留応力・歪測定装置
波長分散蛍光X線分析装置
エネルギー分散蛍光X線分析装置
単結晶X線構造解析 生体高分子関連装置
工業用X線イメージング装置
X線トポグラフ装置
熱分析装置
検出器
発生ガス分析装置
熱刺激電流測定システム TS-POLAR
TS-POLARはフェムトアンペア(fA=10-15A)オーダーまで検出が可能な熱刺激電流測定装置(Thermally Stimulated Current:TSC)です。
エレクトロントラップ測定システム TS-FETT
不純物や結晶欠陥の違いに起因するトラップ準位の変化を、フェムトアンペアレベルの微少な脱トラップ電流の変化として測定できる熱分析装置です。